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ZM2371/ZM2372/ZM2376日本原裝NF高精度LCR測試儀
簡(jiǎn)要描述:

小型LCR測試儀,日本原裝NF高精度LCR測試儀 ZM2371的測試頻率是基本精度 0.08%,頻率范圍 1mHz~100kHz , 測量速度 較快2ms; ZM2372,在ZM2371的功能上4端子的接觸檢查功能,處理機接口; ZM2376LCR基本精度 0.08%,頻率范圍 1mHz~5.5MHz , 測量速度 較快2ms,接觸檢查、低容量檢查功能。

更新時(shí)間:2024-07-03

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日本原裝NF高精度LCR測試儀ZM2371/ZM2372/ZM2376介紹:
日本原裝NF 高精度LCR測試儀ZM2371測量范圍從1mHz低頻領(lǐng)域到5.5Hz,測量精度0.08 %。測量速度 快2ms。實(shí)現了快速且偏差小的穩定測量,可對應從材料研究到零部 件生產(chǎn)線(xiàn)等的各種用途。

測量范圍覆蓋從1mHz低頻領(lǐng)域到5.5Hz高頻領(lǐng)域的NF LCR 測量?jì)xZM系列
實(shí)現了快速且偏差小的穩定測量,可對應從材料研究到零部 件生產(chǎn)線(xiàn)等的各種用途。

 

偏差小的高再現性 測量示例

按照以下條件使用ZM2372和ZM2376,對1nF的電容反復測量200次后得到的結果。
使用ZM2376,測量的再現性得到了進(jìn)一步提高。

寬頻測量范圍和高分辨率設定

ZM2371/ZM2372覆蓋了1mHz~100kHz、ZM2376覆蓋了1mHz~5.5MHz的頻率范圍。并可設定5位數/6位數的分辨率*,因此除了在實(shí)際使用頻率對各種部件進(jìn)行測量外,還可以對參數的頻率依賴(lài)性進(jìn)行評價(jià)。
*ZM2371/ZM2372:5位數、ZM2376:6位數


廣域的測量電平和ALC功能

對10mVrms~5Vrms/1μArms~200mArms的測量信號電平可進(jìn)行3位數分辨率的設置。另外,利用ALC(自動(dòng)電平控制)功能可以設置定電壓/定電流驅動(dòng),因此可用考慮到試樣電壓/電流依賴(lài)性的穩定驅動(dòng)信號來(lái)驅動(dòng),可實(shí)現高再現性的測量。


快速測量

測量時(shí)間可以在RAP (Rapid),FAST,MED (Medium),SLOW,VSLO (Very Slow) 這5種等級切換。選擇RAP,可以實(shí)現2ms (1kHz/1MHz)、10ms (120Hz) 的快速測量??焖?、高精度的LCR測量?jì)x有助于提高生產(chǎn)線(xiàn)及自動(dòng)檢查裝置的測量效率。


高精度

實(shí)現了基本精度0.08%、顯示分辨率多6位數的高精度測量。值得信賴(lài)的測量在從zuixian端器件的開(kāi)發(fā)到檢查線(xiàn)零部件分選,對提高產(chǎn)品性能和品質(zhì)*的。


DC偏置電壓
ZM2371/ZM2372內置了0~+2.5V、ZM2376內置了0~+5V的DC偏置用電源,可以測量電解電容等極性零部件。
ZM2376還可以快速測量鋰離子電池(單電池)等的阻抗。
另外,如果使用選購的DC電壓偏置適配器*,可在試樣上加載
±40V的偏置電壓,測量大容量積層陶瓷電容的電壓依賴(lài)性等。
*選購
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直流電阻 (DCR) 測量

可測量線(xiàn)圈及變壓器的卷線(xiàn)電阻的直流電阻??梢酝瑫r(shí)在主參數中顯示電感,在副參數中顯示直流電阻的測量值。

接觸檢查功能

日本原裝NF高精度LCR測試儀ZM2372

4端子接觸檢查
為了防止因測量先端部與零部件間接觸不良造成的誤測量或錯誤分選,ZM2372采用4個(gè)測量端子來(lái)進(jìn)行接觸檢查判斷,由此排除不良產(chǎn)品。
(進(jìn)行接觸檢查的額外時(shí)間 4ms)
 

● ZM2376
接觸檢查、低容量檢查
檢測異常的低容量及電壓、電流,無(wú)需額外時(shí)間就能檢測出不良接觸。




觸發(fā)電路同步驅動(dòng)

可以只在接觸期間驅動(dòng)試樣的功能。
可以降低在測量大容量電容時(shí),由于安裝拆卸試樣造成的接觸損傷。在短時(shí)間內進(jìn)行測量履歷特性的試樣,測量值會(huì )出現較大的誤差。如使用觸發(fā)電路同步驅動(dòng)的話(huà),加在各試樣上的驅動(dòng)信號和取得信號的時(shí)間以及相位關(guān)系都是固定的,可以抑制測量值的誤差,大幅縮短測量時(shí)間。



偏差顯示

預先設置測量部件的顯示值,可顯示與預設值的偏差、偏差%。 可應用于零部件容許差的規格值的合格判定及溫度特性試驗等。



比較器

主參數大可分為14個(gè)*的BIN類(lèi)別,在副參數中可以對設定好的1組上下限值的測量結果進(jìn)行分選。測量值可通過(guò)偏差或偏差%進(jìn)行分選,判定結果通過(guò)處理器接口*輸出。另外,根據判定結果,有時(shí)會(huì )發(fā)出嗶噗的聲音。
在遠程控制中,使用限值判定功能,也可以對主參數、副參數的上下限值(各1組)進(jìn)行判定。
*ZM2371:多分9類(lèi),未配備處理器接口。



復合測量 (ZM 2376)

復合測量是指對一個(gè)試樣多可32個(gè)步驟的測量條件測量,綜合的進(jìn)行合格判定的功能??稍O定每個(gè)步驟的測量頻率、測量信號電平、內部DC偏壓、測量參數等,對主參數的上下限值1組、副參數的上下限值1組進(jìn)行測量和限值判定。
*ZM2376*的功能。



接口

標配遠程控制用的各種接口。無(wú)需追加選購件就可對應生產(chǎn)線(xiàn)嵌入及自動(dòng)檢查系統等。

 

接口 ZM2371 ZM2372 ZM2376
USB
RS232
GPIB -
LAN - - ○(可選)
處理器 -
  • 補正功能(開(kāi)路補正,短路補正,負載補正,電纜線(xiàn)補正)
  • 設置、補正值存儲(32組、保存在不揮發(fā)性?xún)Υ嬷?、可切換)
  • 監視顯示(電壓、電流)
  • 放電保護
  • 樣板程序(C#、VB)
  • 標配LabVIEW驅動(dòng)<ZM2371/ZM2372>
  • IVI計測器驅動(dòng)(在LabVIEW的系統上自動(dòng)生成LabVIEW驅動(dòng))<ZM2376>
  •  

嵌入部件的生產(chǎn)線(xiàn)、分選裝置中。
快速度2ms、偏差小的測量、抑制連接試樣電纜造成影響的補償功能、比較器及接觸檢查*
等功能,并且還配備了自動(dòng)分選用處理器接口*,足以應對各種生產(chǎn)線(xiàn)需求。
*ZM2371未配備。

 

項目

ZM2371

ZM2372

ZM2376

測量參數   主參數:|Z|、|Y|、 L、 C、 R、 G
  副參數: Q、 D、 θ、 X、 B、 Rs、 Rp、 G、 Lp、 Rdc
測量頻率 1 mHz~100 kHz 1 mHz~5.5 MHz

基本精度

0.08 %

測量信號電平

10mVrms~5Vrms、1μArms~200mArms
內部DC偏置 0~+2.5V 0~+5V
測量時(shí)間 1kHz 快2ms
1MHz 快2ms
定電壓/
定電流驅動(dòng)(ALC)
接觸檢測 ○(4端子)
低電容檢測
比較器 ○(9分類(lèi)) ○(14分類(lèi)) ○(14分類(lèi))
復合測量 ○(32步驟)
處理器接口
 

嵌入部件的生產(chǎn)線(xiàn)、分選裝置中。
快速度2ms、偏差小的測量、抑制連接試樣電纜造成影響的補償功能、比較器及接觸檢查*
等功能,并且還配備了自動(dòng)分選用處理器接口*,足以應對各種生產(chǎn)線(xiàn)需求。

 


快速測量鋰離子電池的阻抗。
ZM2376的內部DC偏置電壓大可設置為+5V,因此可以測量電動(dòng)勢超過(guò)3V的鋰離子電池(單電池)。
另外,可從1mHz的低頻率開(kāi)始測量,因此可以對電池的內部阻抗進(jìn)行詳細評價(jià)。

標配了可以進(jìn)行各種測量條件設定及獲取、顯示測量數據的軟件。
可獲得CSV文件形式的測量數據,方便在研究開(kāi)發(fā)中的大量數據的處理。此外,可通過(guò)掃頻測量,對應阻抗 頻率特性的測量。

 

 

 

2323A 直接連接型測試夾具

對于帶有引線(xiàn)的電子元件,可直接插入本測試夾具進(jìn)行測量。無(wú)論是平行引線(xiàn)還是逆向引線(xiàn)的元件,勿須彎曲引線(xiàn)即可測試


 

2324 四端子鱷魚(yú)夾測試引線(xiàn)

采用四端子對法,對于低阻抗的四端子元件進(jìn)行測試時(shí)所采用的測試引線(xiàn),其電流供給與電壓測量分別使用不同的端子。


 

ZM2391 三端子鱷魚(yú)夾測試引線(xiàn)

備有簡(jiǎn)易測量用的三端子型測試引線(xiàn)。


 


2325AL

2325A(L/M)開(kāi)爾文夾測試引線(xiàn)

這是用兩個(gè)夾具、能連接至四個(gè)端子的測試引線(xiàn)。對于大型或特殊形狀、并難于插入直接連接型測試夾具的電子元件,可使用本測試引線(xiàn)?,F備有標準L型和配備小型夾具的M型可供選用。

[M 型]

[L 型]


 

ZM2392 開(kāi)爾文夾測試引線(xiàn)

備有簡(jiǎn)易測量用的測試引線(xiàn)。


 

2326A 芯片元件用的測試引線(xiàn)

鑷狀測試引線(xiàn)使表面貼裝芯片等元件的測量更加方便。其頂端的測量觸點(diǎn)是可裝卸的。


 

ZM2393 芯片測試夾具

本測試夾具用于測量與線(xiàn)路板表面直接連接使用的SMD(表面貼裝器件)/芯片元件。其特點(diǎn)是雜散電容小、零點(diǎn)校正容易。   
 
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